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边界扫描测试技术
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  • 书名 边界扫描测试技术
  • 书号 978-7-118-09121-2
  • 作者 吴剑旗
  • 出版时间 2013年12月
  • 译者
  • 版次 1版1次
  • 开本 16
  • 装帧 平装
  • 出版基金
  • 页数 284
  • 字数 435
  • 中图分类 TM93
  • 丛书名 　
  • 定价

本书主要从边界扫描技术的产生、原理以及应用三个方面，对边界扫描技术作了较为详细的介绍。包括用于数字电路测试的标准陨耘耘耘员员源怨郾员、混合电路测试标准陨耘耘耘员员源怨郾源、系统级测试标准陨耘耘耘员员源怨郾缘、高速数字网络边界扫描测试标准陨耘耘耘员员源怨郾远，边界扫描技术在芯片设计中的应用，网络型边界扫描测试控制器的设计以及相关可测试性及工程应用设计实例等内容。本书可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等电子类学科专业高年级学生或研究生的课程教材使用，也可作为电子类相关领域工程技术人员的参考资料。

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